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荧光磁粉探伤与普通磁粉探伤的区别

来源: 时间:2024-02-08 09:57:23 浏览次数:

荧光磁粉探伤与普通磁粉探伤都是检测工件表面缺陷,主要有以下四点区别:
  (1)易于观察,荧光磁粉探伤法对比率高。由于磁粉探伤主要依据观察缺陷形成的磁痕来判断缺陷的存在与否及其分布严重程度。因此,磁痕与周围背景之间的亮度或颜色差别是十分重要的,这种差别称为对比度。这种对比率的较大差别,使得荧光磁粉探伤具有较高的裂纹俘获效率。
  (2)荧光磁粉探伤法灵敏度高。试验表明在同等条件下,荧光磁粉探伤可以发现更细微的缺陷。
  (3)荧光磁粉适合暗处与作业空间狭窄部位的磁粉探伤。由于荧光磁粉探伤法对比率高,适合暗处作业,特别是大型船舶双层底环境中的磁粉探伤作业,以及一些特别狭窄部位的作业。也可以减轻人眼长期观察的疲劳,降低磁粉探伤人员的劳动强度。
  (4)荧光磁粉探伤法必须使用紫外线灯。由荧光磁粉探伤原理可知,在实施荧光磁粉探伤时必须配备专用的紫外线灯,这给探伤工作带来一些不便(一般荧光磁粉探伤不适应单人作业)。